FEI QuantaTM, microscoape electronice performante aflate in oferta Ronexprim

FEI QuantaTM, unele dintre cele mai performante microscoape electronice cu baleiaj din lume, sunt disponibile in oferta companiei Ronexprim, lider inca din 1991 pe piata romaneasca de instrumente de masura si control, echipamente de cantarire electronica si echipamente analitice de laborator. Linia FEI QuantaTM consta in sase microscoape electronice cu baleiaj la presiunea mediului, acestea fiind cunoscut in terminologia specifica drept ESEMTM – environmental scanning electron microscopes.

Pe langa cele sase microscoape electronice, seria FEI QuantaTM mai include si doua sisteme Wafer DualBeamTM, capabile sa analizeze probe multiple si sa obtina imagini pentru laboratoarele de control al proceselor industriale, de stiinta materialelor si cele bio. Iata in continuare care sunt principalele caracteristici ale acestor microscoape electronice:

  • filament cu emisie in camp (FEG);
  • tensiune de accelerare 1-30 KV;
  • curent de emisie 200 μA;
  • detector de electroni secundari (ETD);
  • detector de electroni retroimprastiati (BSED);
  • domeniul de marire 50 – 1.000.000 x;
  • rezolutie in imagine de electroni secundari la 30 KV – 1,2 nm;
  • detector de raze X cu dispersie in energie (EDAX), cu rezolutie de 132 eV la Mn Ka.

Pe langa performantele lor impresionante, dintre care se remarca aceea de a mari imaginile de pana la 1 milion de ori, aceste microscoape electronice sunt apreciate si pentru faptul ca au numeroase aplicatii in diverse domenii, dupa cum urmeaza:

  • analize microstructurale si microcompozitionale pe materiale metalice, materiale ceramice, materiale compozite, pulberi, filme subtiri;
  • microanalize calitative si cantitative de raze X (identificarea elementelor chimice de la bor la uraniu, cuantificare, harti de distributie a elementelor pe microzone de interes);
  • vizualizarea, caracterizarea si masurarea dimensionala a probelor nanostructurate (nanopulberi, componente fazice nanostructurate in materiale de interes);
  • expertize privind cauzele ruperii reperelor la incercari mecanice in laborator sau in serviciu.

Totodata, aceste microscoape electronice au o rezolutie minima de 1 nm in modul de lucru la vid inalt si de 5 nm in modul de lucru la vid scazut. De asemenea, ele permit controlul temperaturii cu precizie, pe o plaja situata intre -20 de grade Celsius si +60 de grade Celsius. Totodata, acestea folosesc doi sau trei detectori independenti pentru mixarea color a imaginilor si obtinerea unei imagini in pseudoculori, ca sa evidentieze semnalul de imprastiere unghiulara sau energetica. Timpul de scanare este scazut tocmai datorita obtinerii simultane, la o singura scanare, a patru imagini cu surse diferite.

Iata ce elemente intra in compozitia acestor microscoape electronice extrem de performante:

  • detector conventional Everhart-Thornley pentru detectia semnalului de electroni secundari;
  • detector de electroni secundari in mediul gazos cu camp larg de vizionare LF-GSED (large field detector gaseous secondary electrons detector);
  • detector GSED optimizat pentru imagistica de electroni secundari in vid ultra-scazut si mediu gazos;
  • detector directional de electroni retroimprastiati DBS (directional back scattered detector);
  • detector de electroni secundari (SE) montat in coloana ICD (in column detector);
  • detector STEM cu semi-conductori pentru imagistica de inalta rezolutie in camp luminos si in camp intunecat;
  • detector WetSTEM si controlerul de temperatura Peltier / Heating Stage Control Kit, pentru analizarea probelor subtiri sau groase complet hidratate;
  • detector EDS cu tehnologia Silicon Drift (SDD) – EDAX Octane Plus;
  • camera IR-CCD pentru vizualizarea si pozitionarea in siguranta a probei;
  • camera optica CCD color, denumita Nav-Cam 450, pentru vizualizarea globala a probei, in vederea realizarii unei navigari usoare si intuitive.

Lasă un răspuns

Adresa ta de email nu va fi publicată. Câmpurile obligatorii sunt marcate cu *